INTRODUCTION
Tests Burn-in & HAST
Le burn-in est une procédure de test où les semi-conducteurs sont soumis à des températures et tensions élevées pour éliminer les défaillances précoces avant livraison au client.
HAST (Highly Accelerated Stress Testing) utilise température, humidité et pression pour accélérer les mécanismes de défaillance. Abrel offre des solutions fiables et rentables pour les deux méthodes.
