Betrouwbare, kosteneffectieve oplossingen voor burn-in- en HAST-testen van halfgeleiders.
Informatie aanvragen →Burn-in is een testprocedure waarbij halfgeleiders worden blootgesteld aan verhoogde temperaturen en spanningen om vroege storingen ("infant mortality") te elimineren voordat de producten de klant bereiken.
HAST (Highly Accelerated Stress Testing) maakt gebruik van temperatuur, vochtigheid en druk om faalmechanismen te versnellen. Abrel biedt betrouwbare, kosteneffectieve oplossingen voor beide testmethoden.
Elimineer vroegtijdige storingen in ICs voor levering aan klanten.
EMS-bedrijven die kwaliteitsborging voor hun klanten uitvoeren.
Validatie van nieuwe ontwerpen onder versnelde omstandigheden.
Kwalificatie voor de strenge eisen van de automobielsector.
Voldoen aan de hoge betrouwbaarheidseisen van medische toepassingen.
Neem contact op voor specificaties, prijzen en beschikbaarheid in de Benelux regio.
Informatie aanvragen →