Zuverlässige, kostengünstige Lösungen für Burn-in- und HAST-Tests von Halbleitern.
Informationen anfordern →Burn-in ist ein Testverfahren, bei dem Halbleiter erhöhten Temperaturen und Spannungen ausgesetzt werden, um Frühausfälle zu eliminieren, bevor die Produkte den Kunden erreichen.
HAST (Highly Accelerated Stress Testing) nutzt Temperatur, Feuchtigkeit und Druck, um Ausfallmechanismen zu beschleunigen. Abrel bietet zuverlässige, kostengünstige Lösungen für beide Methoden.






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