PRODUKTLINIE

ABREL BURN-IN & HAST SYSTEME

Zuverlässige, kostengünstige Lösungen für Burn-in- und HAST-Tests von Halbleitern.

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WAS IST BURN-IN?

Burn-in & HAST Tests

Burn-in ist ein Testverfahren, bei dem Halbleiter erhöhten Temperaturen und Spannungen ausgesetzt werden, um Frühausfälle zu eliminieren, bevor die Produkte den Kunden erreichen.

HAST (Highly Accelerated Stress Testing) nutzt Temperatur, Feuchtigkeit und Druck, um Ausfallmechanismen zu beschleunigen. Abrel bietet zuverlässige, kostengünstige Lösungen für beide Methoden.

Abrel
GALERIE

Systeme & Komponenten

Burn-in Systeme
Board-level Burn-in
Burn-in Stems
Board Tester
HAST Boards
SPEZIFIKATIONEN

Wichtigste Merkmale

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