Präzisionssysteme für Halbleiter-Fehleranalyse, Materialwissenschaft und Elektronenmikroskopie.
Informationen anfordern →Micro Support (Japan) entwirft und fertigt Präzisionssysteme für die Probenvorbereitung in der Halbleiter-Fehleranalyse, Materialwissenschaft und Elektronenmikroskopie. Ihre Systeme werden von führenden Forschungsinstituten und Halbleiterherstellern weltweit eingesetzt.

Präzisions-Mikroprobenahme für Extraktion und Analyse spezifischer Zonen auf IC-Chips.
Werkzeuge für die Vorbereitung präziser Querschnitte für die Fehleranalyse.
Spezialisierte Systeme für die TEM-Probenvorbereitung (Transmissionselektronenmikroskopie).
Zubehör für hochauflösende optische Mikroskopie und Inspektion.
Kontaktieren Sie uns für Spezifikationen und Verfügbarkeit im Benelux.
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